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技術(shù)文章
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  • 恒溫恒濕試驗機為何不制冷

    發(fā)布時間:2012-02-25

    恒溫恒濕試驗機為何不制冷在我們做售后服務(wù)的時候,有很多客戶打來咨詢關(guān)于恒溫恒濕設(shè)備不制冷的原因,而我們也一一跟客戶做了講解?,F(xiàn)為了方便更多的客戶在遇到恒溫恒濕設(shè)備不制冷可以更直觀的了解其狀況和原因,今天就這個問題一起來研究和探討下:原因一:1.由于是溫度保持不住,觀察制冷壓縮機在試驗箱運行過程中是否能夠啟動,壓縮機在環(huán)境試驗設(shè)備運行過程中都能夠啟動,說明從主電源到各壓縮機的電器線路正常,電器系統(tǒng)方面也沒有問題。2.電氣系統(tǒng)沒有問題,繼續(xù)檢查制冷系統(tǒng)。先檢查兩組制冷機組的低溫(R23)級壓縮機的排

  • 常用模擬環(huán)境試驗的相關(guān)知識

    發(fā)布時間:2012-02-18

    常用模擬環(huán)境試驗的相關(guān)知識目前,國外已將環(huán)境試驗標準化,許多還制定了環(huán)境試驗標準,總的來說這些標準大同小異,主要包括以下環(huán)境試驗項目:(1)低壓(高空)試驗:試驗適用于在飛機貨艙中空運的產(chǎn)品,在高原上使用的產(chǎn)品和空運產(chǎn)品在飛機受傷后發(fā)生壓力迅速下降的情形。試驗的目的是檢驗產(chǎn)品在低壓環(huán)境中的使用性能以及壓力迅速下降對產(chǎn)品性能的影響。模擬的高高度可達30000m(米),試驗時取高度相對應(yīng)的溫度值。(2)高溫試驗:試驗中產(chǎn)品處于高溫空氣中,但不受到陽光直接照射。試驗針對高溫季節(jié)在室內(nèi)或密閉空間中或接近

  • 選購儀器應(yīng)該注意的哪些問題?

    發(fā)布時間:2012-02-18

    〖選購儀器應(yīng)注意的哪些問題〗1、尊敬的用戶,為確保你所選購的產(chǎn)品盡可能經(jīng)濟實用,根據(jù)企業(yè)產(chǎn)品、規(guī)模對儀器需要一般分為大、中、小型選購及非標定做。像目前我國國內(nèi)絕大部分企業(yè),既要滿足質(zhì)量控制需要,又要做到測試及時準確,為確保用戶所選購的儀器質(zhì)量、價格、服務(wù)盡可能購置較經(jīng)濟實用型,所以要講究儀器對企業(yè)產(chǎn)品的適應(yīng)性。用戶選型時,盡可能選擇標準機型,以便獲得盡快的交貨期和經(jīng)濟的質(zhì)量保證。但由于試驗需求的多樣性,我們有能力以樂意承接制造各種非標準產(chǎn)品或OEM產(chǎn)品。你在選擇艾思荔產(chǎn)品時,請務(wù)必與我司銷售工程

  • 鹽霧試驗標準及試驗結(jié)果的判定

    發(fā)布時間:2012-02-18

    鹽霧試驗標準及試驗結(jié)果的判定標準是對重復(fù)性事物和概述所做的統(tǒng)一規(guī)定。鹽霧試驗標準是對鹽霧試驗條件,如溫度、濕度、氯化鈉溶液濃度和PH值等做的明確具體規(guī)定,另外還對鹽霧試驗箱性能提出技術(shù)要求。同種產(chǎn)品采用那種鹽霧試驗標準要根據(jù)鹽霧試驗的特性和金屬的腐蝕速度及對鹽霧的敏感程度選擇。下面介紹幾個鹽霧試驗標準,如GB/T2423.17—1993《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ka:鹽霧試驗方法》,GB/T2423.18—2000《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗2部分:試驗試驗Kb:鹽霧,交變(氯化鈉溶液)》,G

  • PCT高壓加速老化壽命試驗機的試驗標準

    發(fā)布時間:2012-02-04

    PCT高壓加速老化試驗機滿足標準IEC60068-2-66JESD22-A102-BEIAJED4701EIA/JESD22及的試驗條件特性:●試驗過程自動運轉(zhuǎn)至完成結(jié)束,使用簡便?!袢貕毫Π踩Wo裝置,采用控制器內(nèi)部兩段式超溫保護+機械式壓力安全保護裝置。●手動安全保護排壓伐,警急安全裝置兩段式自動排壓伐?!耠p重過熱保護裝置:當鍋內(nèi)溫度過高時,機器鳴叫警報并自動切斷加熱電源。●LED數(shù)字型溫度控制器可作試驗溫度之設(shè)定、控制及顯示,PID控制,誤差±0.1℃?!馤ED數(shù)字型定時器,當鍋內(nèi)溫度到

  • 環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法之標準匯集

    發(fā)布時間:2012-01-07

    GB/T5170.1—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則GB/T5170.2—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備GB/T5170.5—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備GB/T5170.8—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗設(shè)備GB/T5170.9—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗設(shè)備GB/T5170.10—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備G

  • 環(huán)境氣候試驗箱的使用范圍及用途

    發(fā)布時間:2011-12-31

    ※高溫試驗:在做試驗中產(chǎn)品處于高溫空氣中,但不受到陽光直接照射。試驗針對高溫季節(jié)在室內(nèi)或密閉空間中或接近儲藏或使用的情形。僅當太陽輻射試驗不能檢驗高溫效應(yīng)時才進行這項試驗。試驗的目的是檢驗產(chǎn)品在高溫環(huán)境中儲藏或使用的性能?!蜏卦囼灒涸囼炦m用于在壽命周期中很可能在低溫環(huán)境中使用的。試驗的目的是檢驗產(chǎn)品能否在長期的低溫環(huán)境中儲藏、操縱控制?!錈釠_擊試驗:試驗適用于在預(yù)定的使用區(qū)域或使用模式中經(jīng)常經(jīng)受極迅速溫度變化的產(chǎn)品。例如:從沙漠機場起飛升到高空的飛機上的電子裝備吊倉、導(dǎo)彈、光電設(shè)備和炸彈倉中

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